OPTACOM輪廓粗糙度儀測量原理為直角坐標測量法，即通過X軸、Z1軸傳感器，測繪出被測零件的表面輪廓的坐標點，通過電器組件，將傳感器所測量的坐標點數據傳輸到上位PC機，軟件對所采集的原始坐標數據進行數學運算處理，標注所需的工程測量項目。
OPTACOM輪廓粗糙度儀采用金剛石測針與被測件接觸掃描，實現被測件表面的坐標軌跡測量，獲得原始數據，利用彈性支承結構和電感式傳感器、自編的專用軟件、微電子技術通過計算機最終實現數據采集、數據計算、操作控制、綜合分析、計算、處理，達到粗糙度和輪廓形狀的相關參數測定，對測定結果進行數據和圖像顯示、存儲、打印輸出和發(fā)送。
OPTACOM輪廓粗糙度儀采用光機電算結合達到驅動箱上下有控自動移動，觸針可根據與被測件的接近程度快速和慢速變化左右移動速度實現接觸定位，按程序操作保證觸針不受沖擊傷害。
OPTACOM輪廓粗糙度儀檢測校正流程：
1.在粗糙度測量畫面中，單擊菜單的“校正”并選擇其中的“校正”，按校正步驟進行校正。
2.選擇探針為“通常使用的探針”→選擇校正方法為“利用標準片校正”→校正條件的標準值設定為標準片上的值3.21um，校正倍率選±128um→將標準片放置在水平調整臺上→執(zhí)行校正測量條件的設定：單擊“編輯”，選擇“基本條件”，測量速度選0.300mm/s，移動返回速度6.000mm/s，測量長度5λ，單擊濾波器，勾選“使λs有效”，“比”設300，波長設0.8mm，單擊去除形狀，選擇小二乘直線，確定并執(zhí)行測量。
3.移動測針至下圖位置，點擊測量，將測量值與標準塊標識的值進行對比，差值在±5%之內即為測針可用。如果大于±5%，需分析測量出的曲線圖（縱橫放大倍率分別為2萬和2千倍），觀察波峰波、谷是否清楚，波峰是否尖銳，否則表示測針磨損或損壞。